Teake Zuidema
Een team van het Zwitserse Paul Scherrer Institute is erin geslaagd met een gespecialiseerde röntgentechnologie (x-ray ptychography) een 3d-opname met zeer hoge resolutie (14,6 nm) te maken van een deel van de interne structuur van een microprocessor van Intel.
Het beeld maakt de complete wirwar aan transistors en bedrading zichtbaar. Het team denkt binnen een paar jaar een beeld te kunnen maken van een complete chip.
Deze doorbraak kan niet alleen worden ingezet om ontwerpfouten op te sporen, maar heeft in potentie ook grote gevolgen op het gebied van bedrijfsspionage.
